X-射线荧光分析显微镜
仪器特点：
1、大气状态下分析，不需 对样品进行处理
2、不破坏、无污染分析贵重样品
3、同时分析样品的成分和结构
4、可对样品进行点分析和从微观级到宏观级的面分析
5、能够对Na～U的元素同时进行分析，并可同时记录31种元素的测定结果
仪器技术指标：
ê 元素分析范围：Na～U
ê 仪器灵敏度：几十 ppm
ê X—射线束斑直径： 10μm或100μm
ê 光学显微镜：10倍
ê 样品尺寸：100×100×30mm
ê 扫描范围：512×512μm — 100×100mm
ê X 光管：50 W
¿地质考古、宝石鉴定
¿电子元器件、集成电路
¿刑事侦察、物证鉴定
¿金属材料成分分析及元素分布
¿非金属材料元素分布及成分
¿环境监测
¿生物医学
